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在对于一个眼图进行好和坏的评估时，通常都有一些常见的衡量指标，比如眼高，眼宽，抖动，占空比等，如上图。通过对眼睛不同部位的表征，可以快速地判断和定性信号的问题。比如眼图跳变沿交叉点的上下区域可以占空比，如果上下区域比例不对称，则占空比的结果可能存在问题。
有时候为了能简单直观地判断眼图指标是否符合要求，可以将规范定义的要求制作成一个模板，然后通过示波器来调用，便可以直接观察到眼图是否有接触到模板。如果没有接触到则表示眼图的指标符合规范要求，同样如果有接触到模板，也可以根据接触的位置针对性的改善。不需要像传统的测试方法去一一地测量眼图指标了 USB2.0眼图测试设备步骤？机械眼图测试商家
眼图的模板测试
前面介绍的眼图是一种快速对信号进行统计分析的测量方法，对于信号质量的定性分析和Debug比较有用，但是在有些情况下，测量出信号的眼高、眼宽等参数还不够，我们还需要快速判决该被测信号是否满足相应的总线的规范要求，这时候就会用到模板测试。
所谓模板，就是把对于信号高电平的范围要求、低电平的范围要求、抖动的范围等的指标事先定义好，然后把这些要求做成一个模板文件。典型的模板定义有3部分区域组成，上面的区域定义了对信号的幅度要求，下面的区域定义有3部分区域组成，区域定义对信号的眼图张开度要求。 广东眼图测试多端口矩阵测试眼图测试系统主要分析。
DDR眼图测试1-4
DDR4 做测试时，由于 BGA 信号难以探测，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，将 BGA 下方的信号引到 Interposer ，方便探头焊接，为了减少 Interposer 对信号带来影响，在 interposer 内专门有埋阻设计，减少由于分支和走线带来的阻抗不连续和对信号的负载效应；但为了精确测量，我们需要对 BGA Interposer 带来的误差进行修正。可以通过 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性测试软件N6462A 内进行去嵌，在软件内使用多端口拓扑模型，载入 Interposer 的S 参数，生成从探头测试点到 BGA 焊球位置的去嵌传递函数，在示波器中测得去嵌后的波形，下图可以看到去嵌后信号眼图的改善。
眼图测量方法（传统眼图测量方法），眼图测量方法有两种：传统眼图测量方法用中文来理解是八个字：“同步触发+叠加显示”，现代眼图测量方法用中文来理解也是八个字：“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就四个字：传统的是用触发的方法，现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键，传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次，然后叠加一次。每触发一次，眼图上增加了一个UI，每个UI的数据是相对于触发点排列的，因此是每触发一次眼图上只增加了一个比特位。图一形象表示了这种方法形成眼图的过程。一种眼图示波器系统及眼图测试方法？
数字信号抖动的成因
抖动反映的是数字信号偏离其理想位置的时间偏差。高频数字信号的比特周期都非常短，很小的抖动都会造成信号采样位置电平的变化，所以高频数字信号对于抖动都有严格要求。高速的串行数字信号对抖动的要求更加严格，同时由于其传输路径比较复杂，中间可能会受到各种因素的影响，所以其总体抖动也可能是由不同的抖动分量组成的，而且不同分量对于系统性能的影响也不一样。因此，很多更高速率的串行信号测试在中，出来知道抖动的均方根植或者峰峰值以外，还会要求对抖动的各个成分进行分解和分析。 眼图测试及其疑难问题探讨？北京眼图测试保养
如何帮自己的产品测试眼图。机械眼图测试商家
图测量中需要叠加的波形或比特的数量：在眼图测量中，叠加的波形或比特的数量不一样，可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在，叠加的波形或比特数量越多，则眼的张开程度会越小，就越能测到恶劣的情况，但相应的测试时间也会变长。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折衷，有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量，比如需要叠加1000个波形或者叠加1M个比特等。眼图位置的选择：当数字信号进行波形或者比特叠加后，形成的不只是一个眼图，而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够，这些眼图都是很相似的，因此可以对其中任何一个眼图进行测量。下图显示的是叠加形成的多个连续的眼图，可以看到每个眼图都是很相似的。通常情况下，为了测量的方便，一般会调整时基刻度使得屏幕上只显示一个完整的眼图。 机械眼图测试商家
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