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集成电路分类，功能结构，集成电路，又称为IC，按其功能、结构的不同，可以分为模拟集成电路、数字集成电路和数/模混合集成电路三大类。模拟集成电路又称线性电路,用来产生、放大和处理各种模拟信号（指幅度随时间变化的信号。例如半导体收音机的音频信号、录放机的磁带信号等），其输入信号和输出信号成比例关系。而数字集成电路用来产生、放大和处理各种数字信号（指在时间上和幅度上离散取值的信号。例如5G手机、数码相机、电脑CPU、数字电视的逻辑控制和重放的音频信号和视频信号）。电子元器件的参数包括阻值、容值、电感值、电压等多个方面，需要选用合适的元器件来满足要求。LM4040A82IDCKR

集成电路或称微电路（microcircuit）、微芯片（microchip）、芯片（chip）在电子学中是一种把电路（主要包括半导体装置，也包括被动元件等）小型化的方式，并通常制造在半导体晶圆表面上。前述将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜（thin-film）集成电路。另有一种厚膜（thick-film）混成集成电路（hybrid integrated circuit）是由单独半导体设备和被动元件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路。本文是关于单片（monolithic）集成电路，即薄膜集成电路。TS3L500AERHUR集成电路是现代电子设备中至关重要的基础构件。

为什么会产生集成电路？我们知道任何发明创造背后都是有驱动力的，而驱动力往往来源于问题。那么集成电路产生之前的问题是什么呢？我们看一下1946年在美国诞生的世界上头一台电子计算机，它是一个占地150平方米、重达30吨的庞然大物，里面的电路使用了17468只电子管、7200只电阻、10000只电容、50万条线，耗电量150千瓦 [1]。显然，占用面积大、无法移动是它较直观和突出的问题；如果能把这些电子元件和连线集成在一小块载体上该有多好！我们相信，有很多人思考过这个问题，也提出过各种想法。

90年代，随着INTERNET的兴起，IC产业跨入以竞争为导向的高级阶段，国际竞争由原来的资源竞争、价格竞争转向人才知识竞争、密集资本竞争。以DRAM为中心来扩大设备投资的竞争方式已成为过去。如1990年，美国以Intel为表示，为抗争日本跃居世界半导体榜首之威胁，主动放弃DRAM市场，大搞CPU，对半导体工业作了重大结构调整，又重新夺回了世界半导体霸主地位。这使人们认识到，越来越庞大的集成电路产业体系并不有利于整个IC产业发展，"分"才能精，"整合"才成优势。于是，IC产业结构向高度专业化转化成为一种趋势，开始形成了设计业、制造业、封装业、测试业单独成行的局面，近年来，全球IC产业的发展越来越显示出这种结构的优势。确定应用需求：首先要明确您的应用需求，包括输入电压范围、输出电压和电流、功率需求、工作温度范围等。

IC设计与软件开发的相同之处：（1） 使用的工具。IC设计领域中，EDA软件与计算机已居于主导地位。如上面波形图的例子所示，用运行于计算机上的硬件描述语言（HDL）来进行IC设计，现有的HDL语言如VHDL、Verilog HDL等均与PC软件开发工具C语言类似。（2） 开发过程。目前，IC的设计多采用"自顶向下"的设计方法，逐步细化功能和模块，直至设计环境能够提供的各类单元库；整个过程与软件开发相同。（3） 较终产品。与软件一样，IC设计较终的产品将以一种载体体现，对于软件来说是磁盘中的二进制可执行代码，对于IC来说就是满足用户速度与功能乘积（衡量IC设计水平的重要标志："速度功耗积"）的芯片。TPS7A88芯片还支持多种保护功能，如过热保护、短路保护和反极性保护等，以确保系统的安全和可靠性。LM4040A82IDCKR

TI的电源管理芯片采用了先进的功率转换技术，以提高效率并降低能量损耗。LM4040A82IDCKR

集成电路检测常识：1、要保证焊接质量，焊接时确实焊牢，焊锡的堆积、气孔容易造成虚焊。焊接时间一般不超过3秒钟，烙铁的功率应用内热式25W左右。已焊接好的集成电路要仔细查看，较好用欧姆表测量各引脚间有否短路，确认无焊锡粘连现象再接通电源。2、测试仪表内阻要大，测量集成电路引脚直流电压时，应选用表头内阻大于20KΩ/V的万用表，否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。3、要注意功率集成电路的散热，功率集成电路应散热良好，不允许不带散热器而处于大功率的状态下工作。4、引线要合理，如需要加接外部元件代替集成电路内部已损坏部分，应选用小型元器件，且接线要合理以免造成不必要的寄生耦合，尤其是要处理好音频功放集成电路和前置放大电路之间的接地端。LM4040A82IDCKR