湖北针座设备

针座其实也可称探针座,但在半导体业界称之探针座主要应用Probe上,半导体行业以及光电行业的测试。BT-100针座可选择真空底座或磁性反转底座. X-Y-Z 移动行程: 12mm x 12mm x 12mm,线性移动,线性移动解析2um；BT-60针座可选择真空底座或磁性反转底座. X-Y-Z 移动行程: 12mm x 12mm x 12mm,线性移动,线性移动解析0.7um；BT-80针座可选择真空底座或磁性反转底座. X-Y-Z 移动行程: 12mm x 12mm x 12mm,线性移动,线性移动解析0.7um。在针座上装上打点器，打点器根据系统的信号来判断是否给芯片打点标记。系统在测试每个芯片的时候对芯片的好坏与否进行判断，发出合格与不合格的信号。如果是合格的芯片，打点器不动作；如果是不合格的芯片，打点器立刻对这个不合格的芯片打点。系统在测试每个芯片的时候对芯片的好坏与否进行判断，发出合格与不合格的信号。湖北针座设备

针座治具的校准：我们希望校准过程尽可能的把测试网络中除DUT外所有的误差项全部校准掉，当使用针座夹具的方式进行操作有两种校准方法：1-->一种方式是直接对着电缆的SMA端面进行校准，然后通过加载针座S2P文档的方式进行补偿; 2-->第二种方法是直接通过针座搭配的校准板在针座的端面进行校准。是要告诉大家如果直接在SMA端面进行校准之后不补偿针座头，而直接进行测量的话会带来很大的误差。针座厂商一般都会提供针座的S2P文档与校准片，校准片如下图所示，上面有Open、Short、Load及不同负载的微带线。微型针座生产厂家PCB生产完毕后，直接对PCB进行测试。

针座市场逐年增长：半导体测试对于良率和品质控制至关重要，是必不可少的环节，主要涉及两种测试（CP 测试、FT 测试等）、三种设备（针座、测试机、分选机等）。根据半导体产线投资配置规律，测试设备在半导体设备投资的占比约为8%，次于晶圆制造装备，其中测试机、分选机、针座的占比分别为63.10%、17.40%、15.20%。中国半导体市场飞速增长。在全球贸易摩擦背景下，半导体行业国产化率提高成为必然趋势，国内半导体产业的投资规模持续扩大。

针座主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，针座可吸附多种规格的芯片，并提供多个可调测试及探卡测试针台座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。根据导电性，材料被分为像铜一样导电的导体，像陶瓷一样不导电的绝缘体，还有导电性介于两者间的半导体。近，“半导体”也常被用来称呼利用半导体的特性制成的集成电路。如果发现问题，就需要复杂的诊断过程和人工分析，才能找到问题的原因。

实现芯片测试的途径就是针座。针座是自动测试仪与待测器件之间的接口，我们通过针座把测试仪和被测芯片连接起来。典型的针座是一个带有很多细针的印刷电路板，这些细针和待测器件进行物理和电学接触，通常我们习惯的做法是做一个与每个管芯焊盘几何形状匹配的PCB电路板，并把它连接到测试设备上。针座测试这一过程是非常精密的，要有很高的专业水平和经验才能完成。把晶圆片安放在一个可移动的金属板上。这样，在水平和垂直两个方向上，可以手动或者自动移动晶圆片，并通过针座实现这一部分的电子线路连接。针座上有细小的金属针座附着，通过降低针座高度或升高芯片的高度使之和芯片上的焊盘接触。自动化针座是什么

针座尖如果氧化，接触电阻变大。湖北针座设备

通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至针座，然后通过针座至芯片上的焊点，到达被测器件，并后沿原路径返回测试仪器。如果获得的结果不尽如人意，问题可能是由测量仪器或软件所致，也可能是其它原因造成。通常情况下，测量仪器引进一些噪声或测量误差。而更可能导致误差的原因是系统的其它部件，其中之一可能是接触电阻，它会受针座参数的影响，如针座的材料、针尖的直径与形状、焊接的材质、触点压力、以及针座的平整度。此外，针座尖磨损和污染也会对测试结果造成极大的负面影响。湖北针座设备