河南连接器WAFER

“精确度”是探测仪器基本的指针，涵盖定位、温度及生产率等三个层面。首先，必须能稳定、精确地探测到小型垫片，载台系统亦须精确、能直接驱动晶圆托盘，并在晶圆移动的过程中准确地将晶圆和晶圆对位；其次，必须具备动态监控机制，确保所挟带的空气以监控温度、掌握可靠度和稳定性；后，必须对高产出的进阶移动做动态控制才能拥有佳的终结果。整体而言，针脚和垫片之间的相应精确度应在±1.5μm之间。随着新工艺的微缩，为了强化更小晶粒定位的精确性，需要动态的Z轴辅助校正工作，以避免无谓的产出损失。细针和待测器件进行物理和电学接触。河南连接器WAFER

针尖有铝粉:测大电流时，针尖上要引起多AL粉，使电流测不稳，所以需要经常用洒精清洗针座并用氮气吹干，同时测试时边测边吹氮气，以减少针尖上的AL粉。针尖有墨迹:测试时打点器没有调整好，尼龙丝碰到针尖上，针尖上沾上墨迹,然后针尖与压点接触时，压点窗口上墨迹沾污，使片子与AL层接触不良，参数通不过，还有对后续封装压焊有影响，使芯片与封装后成品管脚焊接质量差，所以平时装打点器时，不要把打点器装得太前或太后和太高或太低，而应该使尼龙丝与硅片留有一定距离，然后靠表面涨力使墨水打到管芯中心，如已经沾上墨迹，要立即用酒精擦干净，并用氮气吹干。广东WAFER排针焊针时，应凭自己的经验,把针尖离压点中心稍微偏一点。

如果需要一款高量测精度的针座，并不是有些厂商单纯的认为，通过简单的机械加工加上一台显微镜就可以完成，我们在针座设备的研发中有着近二十年的经验，并有着精细机械加工的技术能力，可以为您提供高准确的针座电学检测仪器，同时我们与世界电学信号测试厂家有着多年的合作，可以提供各类电学测试解决方案。在对射频设备进行原型设计和测试时，很多情况下，在电路的非端口位置进行测试有助于优化设计或者故障排除。然而实际操作中，在较高的频率下进行测试是一项更大的挑战。

针座可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及针座座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。针座是一种辅助执行机构，测试人员把需要量测的器件放到针座载物台(chuck)上，在显微镜配合下，X-Y移动器件，找到需要探测的位置。接下来测试人员通过旋转针座座上的X-Y-Z的三向旋钮，控制前部针座(射频或直流针座)，准确扎到被测点，从而使其讯号线与外部测试机导通，通过测试机测试人员可以得到所需要的电性能参数。针座尖磨损和污染也会对测试结果造成极大的负面影响。

为什么要射频探测？由于器件小形化及高频谱的应用，电路尺寸不断缩小，类似微带线及PCB版本Pad的测试没有物理接口，使得仪表本身无法与待测物进行直接连接，如果人为的焊接射频接口难免会引入不确定的误差，所以射频针座的使用完美的解决了这个问题。射频探头和校准基板允许工程师进行精确、重复的测量与校准。且任何受过一定训练的工程师都可以进行针座的架设与仪表的校准，以分钟为单位进行测量。同样一个Pad测试点，如果通过针座测量与通过焊接SMA接口引出测量线的方法进行测试对比会发现，针座的精度是高于焊接Cable的精度。针座测试时参数测不稳，为了不使它氧化，我们平时必须保护好针座，把它放在卡盒里。广东WAFER排针

针座使芯片与封装后成品管脚焊接质量差，容易引起短路。河南连接器WAFER

近来出现的一种选择是使用同轴射频电缆安装针座，它结合了针座准确性和可重复性的功能以及用针座可及性的功能。这些针座的边缘类似于针座针座夹具——接地-信号-接地（GSG）或者接地-信号（GS）——一端带有pogo-pin针座，另一端带有典型的同轴连接器。这些新型针座可以达到40 GHz，回波损耗优于10 dB。针座的针距范围在800微米到1500微米之间，这些针座通常使用的终端是3.5毫米母头或2.92毫米母头同轴连接器。与针座一样，可以在特定的测试区域中设计一个影响小的焊盘端口，或者可以将针座放置在靠近组件的端子或微带传输线上。河南连接器WAFER

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